USDMとモデル併用による仕様もれ早期発見方法の提案

イベント名 派生開発カンファレンス2014
カテゴリー エントリー
時間 15:00~15:35
発表者 セイコーエプソン株式会社  井口 雅人
概要 USDMは要求と仕様の階層化と要求の理由明確化により,要求に対する仕様もれに気づきやすくなっている。しかし,複数の要求に関連する仕様が多い場合,レビューを行なったとしても仕様もれに気づかない場合がある。我々はこの問題に対してUSDMとモデルを併用することで,仕様もれを気づきやすくするための新規開発プロセスを作成して適用効果を確認した。
本発表では作成した新規開発プロセスで問題をどう解決したのか紹介する。