T型マトリクスを用いたXDDPとテストプロセスの接続~T4研究会活動報告~
イベント名 | 派生開発カンファレンス2012 |
---|---|
時間 | 11:25~12:10 |
発表者 | 派生開発推進協議会 T4研究会 名野 響 |
概要 | 派生開発プロセスXDDPでは、ソフトウェアの変更点を差分情報として整理し、開発を進める。しかしながら、第3者検証を行う場合、差分情報のみでは、テスト技術者が、既存ソフトウェアにおける影響を検討しづらいという課題があり、本研究会ではT型マトリクスを用いてXDDPとテストを接続する方法を提案した。今回、開発者がテストを行う結合テストにおいてもT型マトリクスを活用することにより、効率的なテスト設計をおこなうことができたので、その適用事例を紹介する。 |
※会員限定